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A Highly Reliable and Cost Effective 16nm Planar NAND Cell Technology
William Kueber,Giuseppina Puzzilli, Niccolo Righetti, Ricardo Basco, Lin Li,Silvia Beltrami,M Bertuccio,Elisa Camozzi, David A Daycock, Matthew King, Chris Larsen, Jeff Karpan,
2015 IEEE International Memory Workshop (IMW)（2015）
引用0浏览0EIWOS引用
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USE OF ETCH PROCESS POST WORDLINE DEFINITION TO IMPROVE DATA RETENTION IN A FLASH MEMORY DEVICE
Randy J Koval, M Hineman, Ronald A Weimer, Vinayak K Shamanna, Thomas M Graettinger,William Kueber, Chris Larsen, Alex J Schrinsky
mag（2013）
引用23浏览0引用
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IEEE WMED 2011 management committee
Prashant Raghu, Jaydeb Goswami, Huy Le, Tim Hollis, David Wells, Aparna Limaye, Laurie Anderson, Shyam Surthi, Steve Groothuis,William Kueber, Haitao Liu, Hari Naidu,
2011 IEEE Workshop on Microelectronics and Electron Devices (2011)
引用0浏览0引用
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ERASE DEGRADATION REDUCTION IN NON-VOLATILE MEMORY
Andrei Mihnea,William Kueber
mag（2010）
引用24浏览0引用
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Non-volatile memory cell healing
Andrei Mihnea,William Kueber,Mark Helm
mag（2010）
引用23浏览0引用
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