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Research Interests
Growth, characterization of wide-bandgap semiconductor SiC
SiC Device fabrication process
Control of SiC MOS interface properties
Growth, characterization of wide-bandgap semiconductor SiC
SiC Device fabrication process
Control of SiC MOS interface properties
研究兴趣
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期刊级别
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合作机构
Japanese Journal of Applied Physics (2024)
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICSno. 1 (2024)
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICESno. 1 (2024): 931-934
Micromachinesno. 6 (2023): 1200-1200
2023 IEEE INTERNATIONAL MEETING FOR FUTURE OF ELECTRON DEVICES, KANSAI, IMFEDKpp.1-4, (2023)
Japanese Journal of Applied Physics (2022)
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