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The Critical Role of 2D TMD Interfacial Layers for Pfet Performance
T.D. Ngo, X. Wu,C.J. Dorow, R.K. Grubbs, L. Pinotti,D. Cott,K. Banerjee, H. Medina Silva,I. Hoflijk,A. Vanleenhove,I. Vaesen,T. Conard, S. Ghosh,O. Richard, F.C. Mascarenhas, L. Mana,D. Vanhaeren,T. Nuytten, F. Xi,K. Maxey, A. Kozhakhmetov,N. Arefin, S. Pasko, S. Krotkus, J. Mischke,S. El Kazzi,M. Metz,K.P. O'Brien,U. Avci, C.J. Lockhart De La Rosa,G. Sankar Kar,B. Govoreanu
2024 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)pp.1-4, (2024)
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Intensity-energy Response Function of Al/Cr-Kα X-Ray Photoemission Instruments: an Inter-Laboratory Study
David Alamarguy,Damien Aureau,Thierry Conard,Nicolas Gauthier, Frederic Georgi,Stephane Guilet,Samar Hajjar-Garreau,Olivier Heintz,Guillaume Monier, Christophe Methivier,Herve Montigaud, Samantha Soule,Olivier Renault,Remi Lazzari
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomenapp.147486-147486, (2024)
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