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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)pp.7B.2-1-7B.2-6, (2022)
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)pp.8.3.1-8.3.4, (2021)
Journal of Physics D: Applied Physicsno. 23 (2020)
M. H. Lee, P.-G. Chen,S.-T. Fan,Y.-C. Chou, C.-Y. Kuo,C.-H. Tang,H.-H. Chen, S.-S. Gu, R.-C. Hong,Z.-Y. Wang,S.-Y. Chen,C.-Y. Liao,
M. H. Lee, P.-G. Chen,S.-T. Fan, C.-Y. Kuo,H.-H. Chen, S.-S. Gu,Y.-C. Chou,C.-H. Tang, R.-C. Hong,Z.-Y. Wang,M.-H. Liao,Kai-Shin Li,
ECS Transactionsno. 8 (2016): 461-467
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