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Defect Characterization of HfTiOx Gate Dielectrics on SiGe Heterolayers Using Inelastic Tunneling Spectroscopy
Partha Pratim Maiti, C. Mukherjee,A. Bag,S. Mallik,C. K. Maiti
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALSno. 1 (2025): 747-757
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Impact of Metal Gate Composition on Ultra-Thin HfYOx Gate Dielectrics
Partha Pratim Maiti,Sandipan Mallik
2024 IEEE 4th International Conference on Applied Electromagnetics, Signal Processing, & Communication (AESPC)pp.1-5, (2024)
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IoT-Based Smart Security and Home Automation System
M. Suresh,Sandipan Mallik, Yashwardhan Kumar, Obbinti Sankar Rao, Madhvi Singh, Deepika Adhikary, Sai Swarup Patnaik, Monik Raj Sahu
Intelligent Technologies for Sensorspp.89-101, (2023)
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