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IEEE Solid-State Circuits Letters (2023): 249-252
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E. R. Hsieh, J. K. Chang,T. Y. Tang,Y. J. Li, C. W. Liang,M. Y. Lin,S. Y. Huang,C. J. Su, J. C. Guo, S. S. Chung
2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits)pp.359-360, (2022)
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E. R. Hsieh, J. K. Chang,T. Y. Tang,Y. J. Li, C. W. Liang, M. Y. Lin,S. Y. Huang,C. J. Su, J. C. Guo, Steve S. Chung
2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits)pp.359-360, (2022)
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