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ISCASpp.1-5, (2023)
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2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)pp.1-10, (2023)
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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICESno. 11 (2023): 5972-5976
CoRR (2023): 233-244
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J. Li,Y. Kim,D. Kong,K. Cheng,S. -C. Seo, C. Robinson, N. Saulnier,R. R. Robison, A. J. Varghese,I. Ahsan,R. Muralidhar,T. Ando,
International Symposium for Testing and Failure AnalysisISTFA 2020: Papers Accepted for the Planned 46th International Symposium for Testing and Failure Analysis (2020)
OSTI OAI (U.S. Department of Energy Office of Scientific and Technical Information) (2020)
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