Peter Hartel - Corrected Electron Opt Syst GmbH

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A Quantum Logic Gate for Free Electrons

Stefan Loeffler,Thomas Schachinger,Peter Hartel,Peng-Han Lu,Rafal E. Dunin-Borkowski,Martin Obermair,Manuel Dries,Dagmar Gerthsen,Peter Schattschneider

QUANTUM (2023)

引用0浏览0EI引用

Exploiting the Full Potential of the Advanced Two-Hexapole Corrector for STEM Exemplified at 60Kv

Ryusuke Sagawa,Akira Yasuhara,Hiroki Hashiguchi,Tomoyuki Naganuma,Shinichi Tanba,Takaki Ishikawa,Thomas Riedel,Peter Hartel,Martin Linck,Stephan Uhlemann,Heiko Mueller,Hidetaka Sawada

Microscopy and Microanalysis（2022）

引用4浏览0WOS引用

Large-Aperture STEM Hexapole Cs-Corrector

S Uhlemann, T Riedel,P Hartel, S Perl,M Linck, V Gerheim, H Müller

Microscopy and Microanalysisno. S1 (2022): 2630-2632

引用2浏览0引用

Experimental Realization of a Π/2 Vortex Mode Converter for Electrons Using a Spherical Aberration Corrector

T. Schachinger,P. Hartel,P-H Lu,S. Loeffler,M. Obermair,M. Dries,D. Gerthsen,R. E. Dunin-Borkowski,P. Schattschneider

Ultramicroscopy（2021）

引用11浏览0WOS引用

On the Benefit of Aberration Correction in Cryo Electron Microscopy

Martin Linck, Heiko Müller,Peter Hartel, Svenja Perl,Stephan Uhlemann,Max Haider

Microscopy and Microanalysis（2020）

引用1浏览0引用

Advancing the Hexapole Cs-Corrector for the Transmission Electron Microscope

Heiko Mueller,Stephan Uhlemann,Peter Hartel,Maximilian Haider

Microscopy and Microanalysis（2020）

引用113浏览0WOS引用

113

On the Residual Six-Fold Astigmatism in DCOR/ASCOR

P. Hartel, V Gerheim,M. Linck,H. Mueller,S. Uhlemann, Z. Zach,M. Haider

Ultramicroscopy（2019）

引用4浏览0WOS引用

Chromatic Aberration Correction for Atomic Resolution TEM Imaging from 20 to 80 Kv

Martin Linck,Peter Hartel,Stephan Uhlemann,Frank Kahl,Heiko Mueller,Joachim Zach,Max. Haider,Marcel Niestadt,Maarten Bischoff,Johannes Biskupek,Zhongbo Lee,Tibor Lehnert,Felix Boerrnert,Harald Rose,Ute Kaiser

pubmed（2016）

引用112浏览0WOS引用

112

Performance of the SALVE-microscope: Atomic-resolution TEM Imaging at 20 Kv

Martin Linck,Peter Hartel,Stephan Uhlemann,Frank Kahl,Heiko Müller,Joachim Zach,Johannes Biskupek,Marcel Niestadt,Ute Kaiser,Max Haider

Microscopy and Microanalysis（2016）

引用1浏览0引用

Correction of the Chromatic and Spherical Baerration Low-Voltage Transmission Electron Microscopy

H. Mueller,M. Linck,P. Hartel,F. Kahl,J. Zach,S. Uhlemann,J. Biskupek, F. Boerrnert,Z. Lee, M. Mohn,U. Kaiser,M. Haider

RECENT TRENDS IN CHARGED PARTICLE OPTICS AND SURFACE PHYSICS INSTRUMENTATIONpp.38-39, (2016)

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