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Modeling of Negative Bias Temperature Instability (NBTI) for Gate-All-Around (GAA) Stacked Nanosheet Technology
Leitao Liu, Jingtian Fang,Ashish Pal,Plamen Asenov,Mohit Bajaj, Bei Deng,Xi-Wei Lin,Souvik Mahapatra,Subi Kengeri,El Mehdi Bazizi
2024 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, IRPS 2024 (2024)
引用0浏览0EIWOS引用
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Study of Trap Generation in NAND Flash Tunnel Oxide Using TCAD
Anuj Kumar,Ravi Tiwari,Mohit Bajaj,Denis Dolgos,Lee Smith,Souvik Mahapatra
8TH IEEE ELECTRON DEVICES TECHNOLOGY & MANUFACTURING CONFERENCE, EDTM 2024pp.139-141, (2024)
引用1浏览0EIWOS引用
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Predictive TCAD of Cu2ZnSnS4 (CZTS) Solar Cells
Sundara Murthy Mopurisetty,Mohit Bajaj,Swaroop Ganguly
2018 INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMULATION OF SEMICONDUCTOR PROCESSES AND DEVICES (SISPAD 2018)pp.305-308, (2018)
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