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2023 INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMULATION OF SEMICONDUCTOR PROCESSES AND DEVICES, SISPAD (2023): 9-12
IEEE Transactions on Electron Devicesno. 6 (2023): 3037-3042
2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS)pp.1-6, (2023)
arXiv (Cornell University) (2023)
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M. Segatto, M. Massarotto,S. Lancaster, Q. T. Duong,A. Affanni,R. Fontanini,F. Driussi,D. Lizzit,T. Mikolajick,S. Slesazeck,D. Esseni
ESSDERC 2022 - IEEE 52nd European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)pp.340-343, (2022)
R. Fontanini, J. Barbot,M. Segatto,S. Lancaster,Q. Duong,F. Driussi,L. Grenouillet, L. Triozon,J. Coignus,T. Mikolajick,S. Slesazeck,D. Esseni
IEEE Journal of the Electron Devices Society (2022): 593-599
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