これまで一貫して、非接触原子間力顕微鏡（Noncontact Atomic Force Microscope; NC-AFM）技法の先鋭化に取り組んできました。この期間に得られた主な研究成果は、①NC-AFMによる表面原子の識別計測、②NC-AFMと走査型トンネル顕微鏡（STM）との高度ハイブリッド計測の確立です。これらの研究により、単なる表面画像測定装置であったNC-AFMを、表面における種々の物性計測設備へと進化させることに成功してきたと自負しています。さらに、表面原子の原子間結合を切り替えることにも取り組み、室温環境下において、局所的な表面原子構造を任意に操作・構築しうるNC-AFM設備の開発にも成功しました。この自ら開発した新規NC-AFM装置を駆使し、③室温環境下における原子操作実験を行い、半導体基板表面に埋め込まれているドーパント原子で文字を書くことに成功している。また、これらの測定手法を④触媒材料測定へ展開し、表面に存在するナノクラスタの測定で成果を得ました。これらの成果は、⑤NC-AFMの高安定化と高精度位置制御技術の開発を行なってきた結果です。