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Zhigang Peng, Yanjun Fu,Yuan Wei,Yinghong Zuo,Shengli Niu,Jinhui Zhu,Yaxin Guo, Fang Liu,Pei Li,Chaohui He,Yonghong Li
AIP Advancesno. 1 (2024): 015211-015211-8
IEEE Transactions on Nuclear Scienceno. 99 (2023): 1-1
Acta Physica Sinicano. 12 (2023): 126101-126101
MICROELECTRONICS RELIABILITY (2023): 115281-115281
AIP ADVANCESno. 12 (2023): 125201-125201-7
Yonghong Li,Yongneng Liu,Yurong Bai, Wei Lyu,Chaohui He,Weitao Yang,Pei Li, Ning Li,Yang Li, Baichuan Wang, Xiaodong Zhang
2023 5th International Conference on Radiation Effects of Electronic Devices (ICREED)pp.1-4, (2023)
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