基本信息
浏览量:190
职业迁徙
个人简介
Tyszera obejmują szeroko rozumianą problematykę testowania scalonych układów cyfrowych wielkiej skali integracji oraz komputerowo wspomaganego projektowania testowalnych układów i systemów cyfrowych. Jest autorem lub współautorem ponad 140 artykułów i referatów naukowych opublikowanych w następujących czasopismach: IEEE Transactions on Computers, IEEE Transactions on Computer Aided-Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on Communications, IEEE Transactions on Circuits and Systems, IEEE Journal on Selected Areas in Communications, IEEE Design and Test of Computers, Electronics Letters, Journal of Electronic Testing, a także w materiałach takich konferencji jak IEEE International Test Conference, IEEE VLSI Test Symposium, IEEE International Conference on Computer-Aided Design, IEEE Design Automation Conference, IEEE Custom Integrated Circuits Conference, IEEE International Conference on Circuits and Systems, IEEE International Conference on Computer Design. Prof. Tyszer jest autorem lub współautorem 97 patentów przyznanych w USA i krajach Unii Europejskiej. Opublikował także książki: „Symulacja cyfrowa” (Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, 1991), „Object-oriented computer simulation of discrete-event systems” (Kluwer Academic Publishers, 1999), “Arithmetic built-in self-test for embedded systems” (Prentice Hall, 1998, wraz z Januszem Rajskim), „Technika cyfrowa - zbiór zadań z rozwiązaniami” (2 wydania, Wydawnictwo BTC, 2016, wraz z G. Mrugalskim, A. Pogielem i D. Czyszem) oraz kilka skryptów uczelnianych Politechniki Poznańskiej. Sześciokrotnie był współlaureatem nagrody za najlepszą pracę w dziedzinie testowania układów cyfrowych przyznawanych przez komitety programowe i uczestników IEEE VLSI Test Symposium, IEEE International Test Conference oraz IEEE VLSI Design Conference. W 2006 roku prof. Tyszer został laureatem nagrody im. Donalda O. Pedersona przyznanej przez IEEE Circuits and Systems Society za najlepszą pracę opublikowaną w czasopiśmie IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems w latach 2004 - 2005. W 2010 roku otrzymał indywidualną nagrodę specjalną I stopnia Rektora Politechniki Poznańskiej za wybitne osiągnięcia naukowo-badawcze. Jest członkiem IEEE w randze IEEE Fellow.
Prof. Jerzy Tyszer koordynuje współpracę Wydziału Elektroniki i Telekomunikacji Politechniki Poznańskiej z firmą Mentor Graphics Corporation, Wilsonville, OR, USA. W ramach wspólnych prac badawczo-wdrożeniowych opracowano między innymi nowoczesne technologie testowania układów cyfrowych TestKompres oraz Xpress. Technologie te zdobyły szereg prestiżowych nagród jako najlepszy produkt roku na rynku narzędzi do automatycznego projektowania testowalnych układów cyfrowych. Artykuł prezentujący podstawowe elementy technologii TestKompress został także uznany za najbardziej wpływową pracę roku 2002 w dziedzinie testowania układów cyfrowych.
Prof. Jerzy Tyszer koordynuje współpracę Wydziału Elektroniki i Telekomunikacji Politechniki Poznańskiej z firmą Mentor Graphics Corporation, Wilsonville, OR, USA. W ramach wspólnych prac badawczo-wdrożeniowych opracowano między innymi nowoczesne technologie testowania układów cyfrowych TestKompres oraz Xpress. Technologie te zdobyły szereg prestiżowych nagród jako najlepszy produkt roku na rynku narzędzi do automatycznego projektowania testowalnych układów cyfrowych. Artykuł prezentujący podstawowe elementy technologii TestKompress został także uznany za najbardziej wpływową pracę roku 2002 w dziedzinie testowania układów cyfrowych.
研究兴趣
论文共 179 篇作者统计合作学者相似作者
按年份排序按引用量排序主题筛选期刊级别筛选合作者筛选合作机构筛选
时间
引用量
主题
期刊级别
合作者
合作机构
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.no. 2 (2024): 442-455
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMSno. 2 (2024): 442-455
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systemsno. 11 (2023): 4260-4269
引用0浏览0EIWOS引用
0
0
ETSpp.1-6, (2023)
引用0浏览0EIWOS引用
0
0
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.no. 9 (2023): 2815-2825
引用4浏览0EIWOS引用
4
0
Janusz Rajski,Vivek Chickermane, Jean-François Côté,Stephan Eggersglüß, Nilanjan Mukherjee,Jerzy Tyszer
IEEE Design & Testno. 99 (2023): 1-1
2022 IEEE International Test Conference (ITC)pp.479-483, (2022)
加载更多
作者统计
合作学者
合作机构
D-Core
- 合作者
- 学生
- 导师
数据免责声明
页面数据均来自互联网公开来源、合作出版商和通过AI技术自动分析结果,我们不对页面数据的有效性、准确性、正确性、可靠性、完整性和及时性做出任何承诺和保证。若有疑问,可以通过电子邮件方式联系我们:report@aminer.cn