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2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS)pp.1-6, (2023)
ELECTRONICSno. 1 (2023)
N. Yazigy,J. Postel-Pellerin,V. Della Marca, K. Terziyan, S. Nadifi, R.C. Sousa, P. Canet,G. Di Pendina
Microelectronics Reliability (2022): 114677
Microelectronics Reliability (2022): 114717
2022 IEEE 4th International Conference on Dielectrics (ICD)pp.764-768, (2022)
Microelectronics Reliability (2022): 114621
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