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Natureno. 7067 (2005): 479-482
B. H. Müller,Stefan Heun, R. Lantier,Silvia Rubini, J. J. Paggel, L. Sorba,Alberta Bonanni,Marco Lazzarino,B. Bonanni, A. Franciosi,Enrico Napolitani,Filippo Romanato,
Journal of Vacuum Science & Technology Bno. 4 (1998): 2334-2341
PHILOSOPHICAL MAGAZINE LETTERSno. 3 (1997): 181-187
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS 1995 (1996): 207-212
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ELECTRON MICROSCOPY 1994, VOLS 2A AND 2B: APPLICATIONS IN MATERIALS SCIENCES (1994)
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