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C Safranski,Guohan Hu,J Z Sun,P Hashemi,S L Brown,L Buzi, C P D'emic, E R J Edwards, Eileen A Galligan,M G Gottwald,O Gunawan,S Karimeddiny,
G. Hu, G. Lauer,J. Z. Sun,P. Hashemi,C. Safranski,S. L. Brown,L. Buzi, E. R. J. Edwards, C. P. D'Emic, E. Galligan,M. G. Gottwald,O. Gunawan,
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)pp.2.5.1-2.5.4, (2021)
E. R. J. Edwards,G. Hu,S. L. Brown, C. P. D'Emic,M. G. Gottwald,P. Hashemi, H. Jung,J. Kim, G. Lauer,J. J. Nowak,J. Z. Sun, T. Suwannasiri,
G. Hu, D. Kim,J. Kim,C. Kothandaraman, G. Lauer, H K Lee,N. Marchack,M. Reuter,R. P. Robertazzi,J. Z. Sun, T. Suwannasiri,J. J. Nowak,
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