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Role of Defects in Atom Probe Analysis of Sol-Gel Silica
Gustav Eriksson, Matteo De Tullio, Francesco Carnovale, Giovanni Novi Inverardi, Tommaso Morresi, Jonathan Houard, Marc Ropitaux,Ivan Blum, Emmanuel Cadel,Gianluca Lattanzi,Mattias Thuvander,Martin Andersson,Mats Hulander,Simone Taioli,Angela Vella
arxiv（2025）
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Crystallographic Dependence of Field Evaporation Energy Barrier in Metals Using Field Evaporation Energy Loss Spectroscopy Mapping
Francois Vurpillot,Constantinos Hatzoglou,Benjamin Klaes,Loic Rousseau, Jean-Baptiste Maillet,Ivan Blum,Baptiste Gault,Alfred Cerezo
Microscopy and microanalysis the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canadano. 6 (2025): 1091-1099
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