AI 检索
AI 阅读
analysis
趋势分析
编组
开放平台
more
更多
排名必读论文期刊顶会热点AI 简史溯源树小脉星探人才迁徙塔尖人才国防情报追踪开源工具智慧手语
VIPCreated with Sketch.
研究兴趣

论文共 151 篇作者统计合作学者相似作者

按年份排序按引用量排序主题筛选期刊级别筛选合作者筛选合作机构筛选
时间
引用量
主题
期刊级别
合作者
合作机构
Device-Aware Test for Ion Depletion Defects in RRAMs
Hanzhi Xun, Sicong Yuan,Moritz Fieback,Hassen Aziza,Mottaqiallah Taouil,Said Hamdioui
2023 IEEE International Test Conference (ITC)pp.246-255, (2023)
引用0浏览0EIWOS引用
0
0
Cortex-M0+-based Pacemaker: CMOS Technologies Benchmark to Achieve Ultra-Low Power Operations
Wafa Zitouni,Rémy Vauche,Hassen Aziza, Laila Ayache, Alaa Makdissi
2023 IEEE International Conference on Design, Test and Technology of Integrated Systems (DTTIS)pp.1-5, (2023)
引用0浏览0EIWOS引用
0
0
Characterization and Test of Intermittent Over RESET in RRAMs
Hanzhi Xun,Moritz Fieback, Sicong Yuan,Hassen Aziza, Mathijs Heidekamp, Thiago Copetti,Leticia Bolzani Poehls,Mottaqiallah Taouil,Said Hamdioui
2023 IEEE 32ND ASIAN TEST SYMPOSIUM, ATSpp.65-70, (2023)
引用0浏览0EIWOS引用
0
0
On the Reliability of RRAM-Based Neural Networks
Hassen Aziza,Cristian Zambelli,Said Hamdioui,Sumit Diware,Rajendra Bishnoi,Anteneh Gebregiorgis
2023 IFIP/IEEE 31ST INTERNATIONAL CONFERENCE ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION, VLSI-SOCpp.13-20, (2023)
引用0浏览0EIWOS引用
0
0
Gate-to-drain/source overlap and asymmetry effects on hot-carrier generation
P. Devoge,H. Aziza, P. Lorenzini, P. Masson, F. Julien, A. Marzaki, A. Malherbe, J. Delalleau, T. Cabout, A. Regnier, S. Niel
2022 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)pp.1-5, (2022)
引用0浏览0EIWOS引用
0
0
加载更多
作者统计
  • 合作者
  • 学生
  • 导师
暂无相似学者，你可以通过学者研究领域进行搜索筛选
数据免责声明
页面数据均来自互联网公开来源、合作出版商和通过AI技术自动分析结果，我们不对页面数据的有效性、准确性、正确性、可靠性、完整性和及时性做出任何承诺和保证。若有疑问，可以通过电子邮件方式联系我们：report@aminer.cn