基本信息
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个人简介
Application specific performance and reliability of neural networks hardware; memristors; time-dependent degradation of scaled devices under circuitry-relevant operation conditions.
Skills and Expertise
Electrodes
Silicon
Electrical Engineering
Oxides
MOS
Materials
Electrical
MATLAB Simulation
Power Electronics
Engineering
研究兴趣
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James Farmer,Dmitry Veksler,E. Tang,Gennadi Bersuker,David Z. Gao,Al-Moatasem El-Sayed,Thomas Durrant,Alexander L. Shluger,Thomas Rueckes, Lee Cleveland, Harry Luan,Rahul Sen
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)pp.36-1, (2022)
J. Farmer, W. Whitehead, A. Hall,Dmitry Veksler,Gennadi Bersuker,David Z. Gao,Al-Moatasem El-Sayed,T. Durrant,Alexander L. Shluger,Thomas Rueckes, Lee Cleveland, Harry Luan,
ECS Meeting Abstractsno. 31 (2020): 2039-2039
SEMICONDUCTOR NANOTECHNOLOGY: ADVANCES IN INFORMATION AND ENERGY PROCESSING AND STORAGE (2018)
ECS Transactionsno. 1 (2017): 99-118
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