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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)pp.4A.2-1-4A.2-4, (2022)
K. Cai, G. Talmelli, K. Fan,S. Van Beek, V. Kateel, M. Gupta, M. G. Monteiro, M. Ben Chroud,G. Jayakumar, A. Trovato,S. Rao,G. S. Kar,
引用2浏览0EIWOS引用
2
0
J. Doevenspeck,K. Garello,S. Rao, F. Yasin, S. Couet,G. Jayakumar,A. Mallik,S. Cosemans,P. Debacker, D. Verkest,R. Lauwereins,W. Dehaene,
2021 Symposium on VLSI Technologypp.1-2, (2021)
引用1浏览0EIWOS引用
1
0
S. Couet,S. Rao,S. Van Beek,V.D. Nguyen,K. Garello, V. Kateel,G. Jayakumar, J.D. Costa,K. Cai, F. Yasin, D. Crotti,G.S. Kar
2021 Symposium on VLSI Technologypp.1-2, (2021)
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