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Insulator physics, Electrical Characterization of advanced CMOS technologies for Frontend Reliability Characterization and Qualification.
Reliabiliry Physics of High-k Metal Gate transistors.Advanced transistor development.
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6TH IEEE ELECTRON DEVICES TECHNOLOGY AND MANUFACTURING CONFERENCE (EDTM 2022)pp.316-318, (2022)
Electrochemical Society Transactionsno. 2 (2021): 19-28
Paul Jamison, John Massey,Takashi Ando,Eduard A. Cartier, P. J. Chen,Hemanth Jagannathan,Eric Liu, Sebastian Naczas,Vijay Narayanan, Shanti Pancharatnam,Phillip Restle, Alex Romero,
ECS Meeting Abstractsno. 23 (2020): 1656-1656
Paul C. Jamison,John Massey,Takashi Ando,Eduard A. Cartier,Hemanth Jagannathan, P. J. Chen,Eric Liu, Alex Romero, Sebastian Naczas,Vijay Narayanan,Shanti Pancharatnam,Phillip Restle,
ECS Transactionsno. 3 (2020): 81-92
J. Rozen, Y. Ogawa,T. Ando,R. Bao,E. Cartier, K. Honda, K.-C. Lee,J. Bruley,H. Miyazoe, K. Suu, M. Hatanaka,V. Narayanan
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