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Nicholas Tzou,Debesh Bhatta, Barry J. Muldrey,Thomas Moon,Xian Wang,Hyun Choi, Barry Muldrey,Abhijit Chatterjee
Journal of Electronic Testing (2016): 659-660
Journal of Electronic Testingno. 1 (2015): 85-98
Journal of Electronic Testing: Theory and Applicationsno. 2 (2014): 213-228
Mumbaipp.122-127, (2014)
2013 14TH IEEE LATIN-AMERICAN TEST WORKSHOP (LATW2013)pp.1-5, (2013)
Test Symposiumpp.283-288, (2013)
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