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Low cost power and supply noise estimation and control in scan testing of vlsi circuits (2010)
引用22浏览0EI引用
22
0
High quality compact delay test generation (2010)
引用23浏览0EI引用
23
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Design & Test of Computers, IEEEno. 3 (2007): 226-234
Creation and maintenance of a communication tree in wireless sensor networks (2007)
引用23浏览0EI引用
23
0
An efficient logic fault diagnosis framework based on effect-cause approach (2007)
引用23浏览0EI引用
23
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Fault simulation and test generation for small delay faults (2006)
引用23浏览0EI引用
23
0
ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systemsno. 2 (2004): 159-198
Integrated circuit outlier identification by multiple parameter correlation (2004)
引用19浏览0EI引用
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