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Spectral Pyrometry for Practical Temperature Measurement in the TEM
D. Keith Coffman,Khalid Hattar,Jian Luo, Shen Dillon
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS (2024)
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Interfacial Transport Mechanisms Characterized Using Ultrahigh Temperature in Situ TEM Nanomechanical Testing
Shen Dillon,Keith Coffman,Robson Grosso,Gowtham Jawaharram,Lin Feng,Yonghui Ma, Elina dos Santos Mucillo,Khalid Hattar,Christopher Barr,Ricardo Castro,Jia-hu Ouyang, R. Garcia,Fadi Abdeljawad
Proposed for presentation at the The 12th International Workshop on Materials Behavior at the Micro- and Nano-Scale----2019 WORKSHOP schedule held June 14-16, 2021 in Xian, China (2021)
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